三次元測量儀是高（gāo）精密的測量儀器，決定其高精度的重要因素除了三次元測量儀器本身的設計外，測針的（de）選擇和使用也是不可忽視的。下麵，小編（biān）就給大家介紹一下測針的選（xuǎn）型指南。

為保持接觸（chù）點的精度（dù），對於三（sān）次元測量儀器選擇測針的建議如下：

1、盡可能選擇短的測針：因為測針越長彎曲或變（biàn）形（xíng）量越大，精度越（yuè）低;

2、盡可能減少測針組件（jiàn）數（shù）：每增（zēng）加一（yī）個測（cè）針與測針杆（gǎn）的連接，便增加了（le）一個潛在的彎曲和（hé）變形點;

3、盡可能選（xuǎn）用測球直徑越大的測針：一是這樣能增大測球/測針（zhēn）杆的距離，從而減少由（yóu）於碰撞測針杆所引起的誤觸（chù）發;其次，測球直（zhí）徑越（yuè）大，被測工件表麵粗糙度的影響越小。

針對不同工件特征，建議（yì）客戶選用不同類型的測針：

直測針：

直測針是最（zuì）簡單的一類測（cè）針，適用於（yú）大多數測頭測量運用。有直肩形測（cè）杆和錐形測杆可供選（xuǎn）擇。當工件容（róng）易接近時，配錐形測杆的測針剛性更強。測針球頭材質為紅寶石、氮（dàn）化矽、氧化鋯、陶瓷或碳化鎢。

對於大多數應用，紅寶石測球是測（cè）針的默認選項，而在在掃描測頭中，針對鑄鐵和鋁材工（gōng）件，我們分別選用氧化（huà）鋁和氮（dàn）化矽材質（zhì）的（de）側球為最佳。

星型測針：

星形測針可用於測量各種不同的形體結構，如：可直接接觸的表麵和孔及複雜內部輪廓。使（shǐ）用（yòng）星形測針檢測孔中的側麵或凹槽等內部特征（zhēng）的極端點時，由於具有多測尖檢測能（néng）力，因此幾乎不需要移動測頭（tóu）。

盤型測針：

盤型測（cè）針是高（gāo）球度測球的“截麵”，有多種直徑（jìng）和（hé）厚度可選。盤形測針安裝在栓上，材質為鋼、陶瓷或紅寶石。全方向旋轉調整及添加中心測針的功能是盤形測針係列的特點。這類測針主要用於檢測星形（xíng）測針無法（fǎ）觸及（jí）的（de）孔（kǒng）內退刀槽和凹槽。

柱狀測針：

用於測量球形測針無法準確接觸的金（jīn）屬片、模壓組件和薄工件，還可測量各（gè）種螺紋特征、並可定位攻（gōng）絲孔的中心。球端麵柱形測針可進行（háng）全麵標定（dìng）及X、Y和Z向測量，因此可進行表麵測量。

陶瓷半球形測針：

陶瓷半球形（xíng）測針的有效測球直（zhí）徑大而重量極小，主要用於測量深位特征和孔。還適合接觸粗糙表麵，因為粗糙度被大直徑表麵機械地過濾掉了。

測針加長杆：

測（cè）針（zhēn）加長杆的材質包括（kuò）鋼、鈦、鋁、陶瓷和碳纖維，主要應用於測量極深的特征和孔（kǒng），或測量難以到達的點。